Características
- Rango de análisis dinámico:
- Azufre: 0,7 ppm – 10,0% en peso
- Cloro: 0,6 ppm – 10,0% en peso
- Rango automático para curvas extendidas.
- No se requieren gases de purga.
- Máximo 60 curvas de calibración y 300 puntos de datos por curva.
- Permite editar curvas de calibración después de salvadas.
- Tiempos de medición de 30 a 999 seg.
- La medición se puede repetir de 1 a 99 veces.
- Función de corrección con el oxígeno que elimina las interferencias que afectan las lecturas de azufre.
- Permite medir varios tipos de muestras * [sólidos, líquidos, polvos, pastas, gránulos y películas].
- Hasta 20 cuentas de administrador y usuario.
- Ventana Kapton reemplazable por el usuario, sin herramientas especiales.
- Ajuste micrométrico del ángulo del cristal de grafito para máxima sensibilidad.
- PC independiente, permite actualizaciones de software electrónicamente.
- Sistemas de seguridad integrados para proteger al usuario de los rayos X.
- Detector de silicio de larga duración / Ventana de berilio de rayos X.
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ASTM D7220 / D4294 / D4929C, ISO 8754 / 13032 / 20847
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